HC 系統是由倒立全電動顯微鏡 Eclipse Ti2 - E 與分析軟體 NIS - Element HC 組成。硬體方面結合 Piezo Z 載台、快速的螢光光源切換模組,可快速且全自動化完成多重多孔盤的影像擷取,使用 Ti2 - E 的 PFS 追焦功能,或是搭配快速的 Piezo Z 載台與軟體自動對焦功能,可維持長時間影像不失焦。HC 靈活的實驗模組設定,可依客戶不同的實驗需求設計出客製化的實驗排序,快速又方便。
快速掃圖且靈活的實驗模組設定
HC 高通量分析軟體建立於 Nikon NIS - Elements 軟體之下,提供快速多孔盤掃圖與後續檔案分析。搭配自動對焦功能、與高速濾片切換等功能,在結合客製化軟體模組後,可依實驗需求完成快速多孔、多盤的檔案分析。