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半導體檢測設備
12" Wafer Inspection
OST - 3000
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OST - 3000
12" Wafer Inspection
Nikon OST - 3000 / 12" Wafer Inspection
Simpie and speedy manual visual inspection of 300mm wafers. Contributes to dramatic increases in yields as an inline inspection system and analysis tool for backend process
12" Wafer Inspection
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台北總公司
105台北市松山區南京東路三段272號8樓
Tel:(02) 2740-3366
Fax:(02) 2773-5577
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