看透產品│洞悉缺陷 - Nikon XT V 系列

Nikon XT V 系列滿足了當今對複雜電子元件的高性能、非破壞性檢測的需求，其 Xi Nanotech X 射線源採用開放式燈管技術，可大幅降低維修保養成本、機台尺寸及重量，搭配業界領先的平板探測器，可產生一流的影像品質，也可使用 CT（Computed Tomography）建立 3D 影像。

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