看透產品│洞悉缺陷 - Nikon XT V 系列
Nikon XT V 系列滿足了當今對複雜電子元件的高性能、非破壞性檢測的需求,其 Xi Nanotech X 射線源採用開放式燈管技術,可大幅降低維修保養成本、機台尺寸及重量,搭配業界領先的平板探測器,可產生一流的影像品質,也可使用 CT(Computed Tomography)建立 3D 影像。
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服務專線(02)2740-3366 分機 272 林先生
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