CCD 數位影像基礎原理（二）

資料來源：https://www.microscopyu.com/digital-imaging/fundamentals-of-digital-imaging

量子效率（QE）用來定義感光元件的性能，例如底片、感光耦合元件（charge-coupled device, CCD）等，將其受光表面接收到的光子轉換電子訊號的百分比例，因此數值愈接近 100% 代表損失愈少。

以顯微鏡明視野（photopic）為參考，其 QE 峰值約為 3%（見圖 1）；暗視野（scotopic）的光譜靈敏度則略高於明視野；矽光電二極體是 CCD 的基本建構單元，在整個可見光譜和近紅外線範圍內具有達 80% 的高 QE；CCD 則因除了由大量矽光電二極體組成外，表面尚有電荷傳輸通道，使一般彩色 CCD 的 QE 峰值降至約 40%；一些研究級 CCD 使用背照式架構，光會直接落在 CCD 背面的特定區域，該區域已通過蝕刻變薄至透明，在部分波段可實現 QE > 90%，但此種製作成本極高且精細，僅用於研究級和慢掃描 CCD。

【工業精密檢測設備】CCD 數位影像基礎原理（二） — ▲圖1 不同 CCD 的 QE 比較

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