X.Tract 是專為 Nikon XT V 130/160 開發的 X-ray CT 簡化方案，主要克服 CT 需要大量時間及迴轉空間不足的問題，尤其單一軸向厚度遠比其他兩軸薄的樣品最適合，例如 PCB、FPC、鋁基板等。

板材最大的掃瞄尺寸為 406 x 406mm，範圍內不須裁板即可使用局部掃描的方式，快速取得 CT 影像及 3D 重建模型，並利用切層觀察內部成型或組裝狀況，除了將檢測時間從數小時壓縮至數十分鐘外，亦能省去因樣品前置作業產生的加工費用與樣品損耗。

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