想要任意選取欲量測之範圍,完成晶片位置分佈圖?
應用於基版量測
應用於基版量測
應用於晶圓量測
應用於晶圓量測
選定要量測的晶片
選定要量測的晶片
應用範圍
NIKON VMZ Mapping Pro 同時可使用於晶圓量測,與基板量測之軟體,即為待測元件之位置分佈圖,在輸入間距等數據後,可建立 Mapping 圖,可挑選所要的元件進行量測, 解決抽檢與資料統計分析繁複費時的問題,提升作業便利性。
優點
可指定不同區塊位置,完全按照晶圓或基版晶片之位置,設計出一對應之晶片配置圖,任意選取所需檢測數量,並自動判定是否 NG(顯示紅色),亦可針對不合格晶片指定重新執行。
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Nikon VMZ - S3020、S4540、S6555
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