中文
English
最新消息
產品資訊
解決方案
展示中心
關於我們
聯絡我們
TAF校正實驗室
首頁
解決方案
想要任意選取欲量測之範圍,完成晶片位置分佈圖?
想要任意選取欲量測之範圍,完成晶片位置分佈圖?
應用於基版量測
應用於晶圓量測
選定要量測的晶片
應用範圍
NIKON VMZ Mapping Pro 同時可使用於晶圓量測,與基板量測之軟體,即為待測元件之位置分佈圖,在輸入間距等數據後,可建立 Mapping 圖,可挑選所要的元件進行量測, 解決抽檢與資料統計分析繁複費時的問題,提升作業便利性。
優點
可指定不同區塊位置,完全按照晶圓或基版晶片之位置,設計出一對應之晶片配置圖,任意選取所需檢測數量,並自動判定是否 NG(顯示紅色),亦可針對不合格晶片指定重新執行。
立即聯絡
PRODUCTS
相關產品
Nikon VMZ - S3020、S4540、S6555
服務據點
台北總公司
105台北市松山區南京東路三段272號8樓
Tel:(02) 2740-3366
Fax:(02) 2773-5577
新竹分公司
300新竹市東區關新路27號15樓之2
Tel:(03) 564-1360
Fax:(03) 564-1363
台中分公司
406台中市北屯區文心路四段450號
Tel:(04) 2230-0077
Fax:(04) 2230-0055
台南分公司
744台南市新市區光明街82號
Tel:(06) 589-1721
Fax:(06) 589-1728
高雄分公司
806高雄市前鎮區民權二路8號12樓之2
Tel:(07) 537-3990
Fax:(07) 537-3880
×
CONTACT US
聯絡我們
公司名稱
姓名
電話
EMAIL信箱
請選擇所需服務
請客戶服務代表與我聯絡
請工程師與我討論應用方案
我需要代客量測服務
我想要知道價格
我想要試用裝置
其他
說明
驗證碼
送出